半导体芯片测试

低阶数字芯片测试机UI3064A/UI3164A

产品概述

UI3064A/UI3164A是由联合仪器研发设计,针对低阶数字芯片的测试系统。此系统采用PXI架构,配置多块板卡,可靠性高,扩展性好,可按照客户需求配置相应功能,为客户提供灵活开放的服务。

产品特点

● 系统采用的是PXI架构
● 可以支持多site并行同步测试
● 可以根据需求进行扩展
● 底层API基于C开发
● 支持VC,VC++,Labwindows/CVI,Labview 等

基本功能与性能

目标器件:
● 数字芯片,指纹识别芯片等

集成测试系统的主要技术指标见下表:

外观尺寸

操作系统

开发环境

地址:北京市海淀区长春桥路11号万柳亿城大厦C1座1905室 (总部) 服务热线:010-58816565 京ICP备18027893号-2
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